Powrót do listy wiadomości             
                    Dodano: 2008-07-31  |  Ostatnia aktualizacja: 2008-07-31
            
            
            Automatyczny system detekcji defektów powierzchni
                     
                                    Automatyczny system detekcji defektów powierzchni
                                Nowy system jest w stanie wykryć dziurki, pęknięcia, czy niedoskonałości i zmatowienia szkliwa nawet na płytkach z teksturą, skracając w ten sposób czas produkcji i obniżając jej koszty poprzez wczesną eliminację odrzutów.
Ten trzyletni projekt doprowadzi do znaczącego udoskonalenia systemów kontroli płytek ceramicznych.” – powiedział Melvyn Smith, dyrektor laboratorium widzenia maszynowego UWE. „Może on znaleźć zastosowanie również w innych branżach, w których jakość powierzchni jest czynnikiem kluczowym. System dzięki naszemu doświadczeniu w zakresie wykorzystywania metody ‘stereo-fotometrycznej’ będzie w stanie wychwycić topograficzne detale powierzchni z bardzo wysoką rozdzielczością.”
„Nie istnieje, jak dotąd, żadne komercyjne urządzenie, które umożliwia przez sieć detekcję i analizę defektów materiału wprost na linii produkcyjnej w czasie rzeczywistym.” – powiedział Arwyn Roberts z Fima Surface Inspection. „Ten realizowany wspólnie z UWE i Bath University projekt pozwoli nam stać się bardziej konkurencyjnymi, a także wpłynie na redukcję ilości odpadów.”
(lk)
Kategoria wiadomości:
Z życia branży
 
Komentarze (0)
Czytaj także
- 
            
                  System wizyjny w procesie kontroli jakościSystemy wizyjne w produkcji są wykorzystywane do wsparcia procesu kontroli jakości. Nowoczesna technologia pozwala zmniejszyć liczbę wadliwych... 
- 
            
                  Kluczowa rola wycinarek laserowych w obróbce metaliwww.automatyka.plWycinarki laserowe zrewolucjonizowały przemysł obróbki metali, oferując niezwykłą precyzję i efektywność. Dowiedz się, dlaczego są one... 
- 
            
                  
- 
            
                  
- 
            
                  
- 
            
                  
- 
            
                  
 
             
             
             
             
             
            